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HEIDENHAIN封闭式光栅尺,德HEIDENHAIN封闭式光栅尺

简要描述:HEIDENHAIN封闭式光栅尺,德HEIDENHAIN封闭式光栅尺
封闭式光栅尺海德汉的封闭式光栅尺能有效防尘、防切屑和防飞溅的切削液,是用于机床的选择。铝质外壳和密封软条可以保护光栅尺、扫描单元和轨道免受灰尘、切屑和切削液的影响。

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  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-07-24
  • 访  问  量:1400

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HEIDENHAIN封闭式光栅尺,德HEIDENHAIN封闭式光栅尺

封闭式光栅尺海德汉的封闭式光栅尺能有效防尘、防切屑和防飞溅的切削液,是用于机床的选择。铝质外壳和密封软条可以保护光栅尺、扫描单元和轨道免受灰尘、切屑和切削液的影响。扫描单元的运动轨道摩擦力很小,轨道内置在光栅尺上。它通过一个连轴器与外部的安装架连接,这个连轴器可以补偿光栅尺和机器轨道之间不可避免的对正误差。. 封闭式光栅尺的结构有标准光栅尺外壳适用于振动频率高且zui大测量长度为30米,还有紧凑光栅尺外壳适用于安装空间小,zui大测量长度为2040毫米。

LC 493F  式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm(分辨率达0.005 µm)单场扫描定位精度高和移动速度快适用于安装空间有限处
LC 493F式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm(分辨率达0.005 µm)单场扫描定位精度高和移动速度快适用于安装空间有限处
LC 493M式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm(分辨率达0.005 µm)单场扫描定位精度高和移动速度快适用于安装空间有限处

HEIDENHAIN封闭式光栅尺,德HEIDENHAIN封闭式光栅尺
LC 493M 式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm(分辨率达0.005 µm)单场扫描定位精度高和移动速度快适用于安装空间有限处
LC 183   式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm(分辨率达0.005 µm)单场扫描定位精度高和移动速度快能承受高振动频率支持水平安装
LC 183   式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm(分辨率达0.005 µm)单场扫描定位精度高和移动速度快能承受高振动频率支持水平安装
LC 483   式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm(分辨率达0.005 µm)单场扫描定位精度高和移动速度快适用于安装空间有限处
LC 483  式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm(分辨率达0.005 µm)单场扫描定位精度高和移动速度快适用于安装空间有限处
   LF 183C增量式直线光栅尺,测量步距为0.1 µm单场扫描定位精度高温度特性接近钢材和铸铁能承受高振动频率支持水平安装


供应海得汉HEIDENHAIN旋转编码器、HEIDENHAIN角度编码器、HEIDENHAIN磁栅编码器、HEIDENHAIN封闭式直线光栅尺、HEIDENHAIN敞开式直线光栅尺、HEIDENHAIN长度计、HEIDENHAIN计数卡
 ERM 220 系统精度:± 18''光栅鼓外径:176.03 mm
  ERM 220系统精度:± 9'光栅鼓外径:452.64 mm
   ERM 220系统精度:± 10''光栅鼓外径:326.90 mm
   ERM 220系统精度:± 12''光栅鼓外径:257.50 mm
   ERM 220系统精度:± 12''光栅鼓外径:257.50 mm
   ERM 220系统精度:± 36''光栅鼓外径:75.44 mm
   ERM 220系统精度:± 25''光栅鼓外径:113.16 mm
   ERM 220系统精度:± 22''光栅鼓外径:128.75 mm


   ERM 220系统精度:± 20''光栅鼓外径:150.88 mm
   ERM 280系统精度:± 36''光栅鼓外径:75.44 mm
   ERM 280系统精度:± 25''光栅鼓外径:113.16 mm
   ERM 280系统精度:± 22''光栅鼓外径:128.75 mm
   ERM 280系统精度:± 20''光栅鼓外径:150.88 mm
   ERM 280系统精度:± 12''光栅鼓外径:257.50 mm
   ERM 280系统精度:± 12''光栅鼓外径:257.50 mm
   ERM 280系统精度:± 10''光栅鼓外径:326.90 mm
   ERM 280系统精度:± 9''光栅鼓外径:452.64 mm
   ERM 280系统精度:± 18''光栅鼓外径:176.03 mm
   ERM 2484系统精度:± 43''光栅鼓外径:75.44 mm
   ERM 2484 系统精度:± 36''光栅鼓外径:75.44 mm
   ERM 2485 系统精度:± 43''光栅鼓外径:75.44 mm
   ERM 2485 系统精度:± 36''光栅鼓外径:75.44 mm

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