关于SICK测量光栅电子样本

产品简介
关于SICK测量光栅电子样本
测量光幕/测量光栅主要用于复杂的应用场合。SICK测量光幕/测量光栅产品系列丰富，包含不同的光点间距，检测高度和输出类型。
可用在输送带上物体的分拣，自动化存储和自动化检索和全自动化的订单处理系统。
例如在托盘测量检定应用中，托盘上物体的Z大高度和是否超限均可被检测出来，且数据可以很简便的通过总线传送PLC控制器中。

Name: 关于SICK测量光栅电子样本CM12-08EBP-KW1
Brand: SICK
Availability: InStock

产品型号：CM12-08EBP-KW1

更新时间：2025-12-03

厂商性质：经销商

访问量：1906

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关于SICK测量光栅电子样本
特性规格：
MLG-2 能胜任zui艰巨的任务，可检测包括不可见物体在内的任何物体，并可依靠优异的响应速度、分辨率和光学技术，*检测“不可见"物体 , 如快速移动 , 微小甚是透明物体。
同时，该产品更有西克一贯的高可靠性作为。
专门使用于物体有无、超限检测、宽高测量、物体识别：巧妙的支架设计与直观的设置显示，快速完成安装。
同时，光同步功能既可靠的测量，又极大节省布线的时间与成本。
凭借大幅改进的光学器件，MLG-2 Prime可提供的、更小光轴间距、抗高亮反射物以及高光冗余量，使您的应用更加可靠和。
MLG-2 Prime搭配IO-Link 1.1 接口，可提供改进的数据传输、复制功能或设备状态监控等众多，是更优化的高性价比组合。
此外，MLG-2 Prime还可根据需求提供模拟量输出和开关输出。

关于SICK测量光栅电子样本

关于SICK测量光栅电子样本
快速的集成到系统中
集成CANOpen接口
精度可选 10 / 20 / 30 / 50 mm，且接受定制客户化的精度要求
zui大 8.5 m的工作距离
检测高度zui大可达 3 m 和zui多 240个光点
极短的响应时间 < 9 ms
在复杂的应用中可以通过示教算法进行敏感度学习
测量光幕/测量光栅主要用于复杂的应用场合。SICK测量光幕/测量光栅产品系列丰富，包含不同的光点间距，检测高度和输出类型。
可用在输送带上物体的分拣，自动化存储和自动化检索和全自动化的订单处理系统。
例如在托盘测量检定应用中，托盘上物体的zui大高度和是否超限均可被检测出来，且数据可以很简便的通过总线传送PLC控制器中。
MLG-2 系列具备的耐用和，无论您选择哪些设备，都能全面满足您的应用要求。