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日本欧姆龙OMRON位移传感器结构图

日本欧姆龙OMRON位移传感器结构图

型    号: E2E-X5ME1
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日本欧姆龙OMRON位移传感器结构图
位移传感器 强化和充实了透明物体•玻璃测量的传感器探头。新开发的2维CCD(S-CCD)实现了高度的探测。测量状态一目了然。随心所欲的显示。对话式菜单、强有力地支持程式编制。丰富的保持机能和触发的自由度、使应用范围更加广泛。

E2E-X5ME1日本欧姆龙OMRON位移传感器结构图的详细资料:

日本欧姆龙OMRON位移传感器结构图

技术规格:
使用激光位移传感器时,移动测量会导致精度劣化,需要增加平均次数,因此出现了形状再现性较差的问题。ZW-7000可实现短20μs的高速采样,即使无平均化处理,也可忠实测量形状。
激光位移传感器在测量段差及间隙时,存在发生多面反射导致形状轮廓模糊、边缘检测位置波动、位置检测精度下降等问题。ZW-5000凭借10μm的小光点,可避免发生多面反射,形状轮廓清晰,从而提高位置检测精度。
近来,随着产品设计多样化,检查外观时对单个部件的品质管理要求越来越高,人们期望能够在不降低生产节拍的情况下进行品质检查,实现“边移动边稳定测量”。ZW-7000/5000系列充分发挥了白光共焦方式的优点,即使各种材质和形状混在一起也能进行稳定测量。
使用以往的激光位移传感器时,来自工件的多重反射光会诱发测量值跳动,因此无法掌握本来希望测量的“平坦度”。另外,传感头的朝向和测量线的方向会造成更大的偏差。 
白光共焦位移传感器不受多重反射光的影响,可1次性测量近似于实际形状的高度。
凭以往的激光位移传感器的尺寸,在空间受限的情况下难以进行多台传感器并行测量。ZW-7000/5000系列可并行安装超小型传感头,从而缩短时间。
以往的激光位移传感器在光反射到受光元件上的位置测量工件高度,因此需要根据测量对象物体的形状和移动方向执行传感头的旋转工序,造成了花费多余时间的问题。白光共焦位移传感器无方向限制,在相同安装条件下,可在所有方向进行移动测量。
控制器与传感头通过直径3mm的耐弯曲光纤电缆连接。通过300万次的弯曲测试*,尽可放心地应用于可动部位。

日本欧姆龙OMRON位移传感器结构图


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